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--- 温度传感器模块 [2017/06/06 14:15]
anran [STEP FPGA驱动单总线温度传感器DS18B20Z模块]
+++ 温度传感器模块 [2020/01/18 21:36] (当前版本)
gongyu
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-======STEP FPGA驱动温度传感器DS18B20Z======
+### STEP FPGA驱动温度传感器DS18B20Z
-本节将和大家一起使用FPGA驱动底板上的DS18B20Z传感器进行温度数据的采集。
+本节将和大家一起使用FPGA驱动底板上的DS18B20Z单总线温度传感器进行温度数据的采集。
+---
-====硬件说明====
+#### 硬件说明
--------
+DS18B20是我们日常设计中常用的一款温度传感器芯片，只需要一根总线就可以实现通信，非常的方便，我们的[[STEP-BaseBoard]]底板上就集成了温度传感器DS18B20Z，下面我们就一起来学习一下它的硬件链接及驱动方法。
-在前面之前的入门教程中[[4. 数码管显示| 数码管独立显示 ]]章节已为大家介绍了数码管独立显示的相关内容，关于独立显示这里就不在赘述。我们的底板上有6位数码管，根据驱动方法不同，有以下比较：
 \\
-独立显示：控制每个数码管至少需要8个I/O口控制，6位数码管就需要6*8 = 48根信号线才能分别显示。独立显示实现简单，但是需要大量的信号线。
+DS18B20Z只有一根总线，硬件电路非常简单，但是一定记得总线需要做上拉处理，如下图总线上连接了10K（上拉电阻取值可以一定范围内自行调整）的上拉电阻，另外我们使用FPGA驱动，一定记得将FPGA对应的管脚同样作上拉配置，重要的事情说三遍，总线上拉，总线上拉，总线上拉。
+{{ :ds18b20z硬件电路.jpg?800 |}}
 \\
-扫描显示：将每位数码管的同一段选信号连接在一起，这样我们就只需要8根段选信号和6根位选信号，共计14根信号。扫描显示可以有效节约I/O口资源，实现起来稍显复杂。
+聊完硬件连接，接下来简要介绍如何驱动（更加详细的信息需要大家参考数据手册），不同的功能需求对应不同寄存器配置，本设计执行的操作案例如下。
-{{ :6位数码管.jpg?1600 |}}
 \\
-我们小脚丫底板上使用的6位共阴极数码管，分析扫描显示的原理如下：
+{{ :ds18b20z驱动案例.jpg?800 |}}
 \\
-当某一时刻，FPGA控制8根公共的段选接口输出数字1对应的数码管字库数据8'h06（DP=0、G=0、F=0、E=0、D=0、C=1、B=1、A=0）时，同时控制6位数码管只有第1位使能（DIG1=0、DIG2=1、DIG3=1、DIG4=1、DIG5=1、DIG6=1）这样我们会看到第1位数码管显示数字1，其余5位数码管不显示，如果不明白可以参考入门教程中实验四：[[4. 数码管显示| 数码管独立显示 ]]章节
+下面为大家展示上述案例中每个环节的时序要求：
 \\
-按照扫描的方式，一共分为6个时刻，段选端口分别对应输出6位数码管需要显示的字库数据，位选端口保持每个时刻只有1位数码管处于使能状态，6个时刻依次循环，当扫描频率足够高（例如当扫描频率等于100Hz）时，则在人眼看到的数码管显示就是连续的，我们看到的就是6个不同的数字。
+{{ :ds18b20z初始化时序.jpg?800 |}}
 \\
-上面为大家介绍了数码管的独立显示和扫描显示两种方法，扫描显示的方式使用了14个I/O口控制，相对于简单的处理器来讲14个I/O口也是非常多了，这里我们又使用了一款常见的驱动芯片74HC595，下面我们一起了解一下：
+{{ :ds18b20z读写时序.jpg?800 |}}
 \\
-HC595是较为常用的串行转并行的芯片，内部集成了一个8位移位寄存器、一个存储器和8个三态缓冲输出。在最简单的情况下我们只需要控制3根引脚输入得到8根引脚并行输出信号，而且可以级联使用，我们使用3个I/O口控制两个级联的74HC595芯片，产生16路并行输出，连接到扫描显示的6位数码管上，可以轻松完成数码管驱动任务。
+{{ :温度转换时间.jpg?800 |}}
 \\
-{{ :74hc595电路.jpg?1000 |}}
+{{ :温度编码格式.jpg?800 |}}
 \\
-不同的IC厂家都可以生产74HC595芯片，功能都是一样的，然而不同厂家的芯片手册对于管脚的命名会存在差异，管脚顺序相同，大家可以对应识别
+{{ :温度码值对照表.jpg?800 |}}
-上图是本设计中74HC595芯片的硬件电路连接，参考74HC595数据手册了解其具体用法，下图中我们了解到OE#（G#）和MR#（SCLR#）信号分别为输出使能（低电平输出）和复位管脚（低电平复位），OE#（G#）我们接GND让芯片输出使能，MR#（SCLR#）我们接VCC让芯片的移位寄存器永远不复位，如此FPGA只需要控制SH_CP（SCK）、ST_CP（RCK）和DS（SER）即可。
-\\
-{{ :74hc595引脚功能.jpg |74hc595引脚功能}}
-\\
-{{ :74hc595逻辑图.jpg |74hc595逻辑图}}
-\\
-{{ :74hc595时序图.jpg |74hc595时序图}}
-\\
-{{ :数码管程序框图.jpg?1000 |数码管驱动程序框图}}
 \\
-====Verilog代码====
+---
-------
+#### Verilog代码
 <code verilog>
 // --------------------------------------------------------------------
 // >>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> COPYRIGHT NOTICE <<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<<
 // --------------------------------------------------------------------
-// Module:Segment_scan
+// Module:DS18B20Z
 //
 // Author: Step
 //
-// Description: Display with Segment tube
+// Description: Drive DS18B20Z to get temperature code
 //
 // Web: www.stepfpga.com
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 // V1.0     |2015/11/11   |Initial ver
 // --------------------------------------------------------------------
-module Segment_scan
+module DS18B20Z
 (
-input				clk_in,			//系统时钟
+	input				clk_in,			//系统时钟
-input				rst_n_in,		//系统复位，低有效
+	input				rst_n_in,		//系统复位，低有效
-input		[3:0]	seg_data_1,		//SEG1 数码管要显示的数据
+	inout				one_wire,		//DS18B20Z传感器单总线，双向管脚
-input		[3:0]	seg_data_2,		//SEG2 数码管要显示的数据
+	output	reg	[15:0]	data_out		//DS18B20Z有效温度数据输出
-input		[3:0]	seg_data_3,		//SEG3 数码管要显示的数据
-input		[3:0]	seg_data_4,		//SEG4 数码管要显示的数据
-input		[3:0]	seg_data_5,		//SEG5 数码管要显示的数据
-input		[3:0]	seg_data_6,		//SEG6 数码管要显示的数据
-input		[5:0]	seg_data_en,	//各位数码管数据显示使能，[MSB~LSB]=[SEG6~SEG1]
-input		[5:0]	seg_dot_en,		//各位数码管小数点显示使能，[MSB~LSB]=[SEG6~SEG1]
-output	reg			rclk_out,		//74HC595的RCK管脚
-output	reg			sclk_out,		//74HC595的SCK管脚
-output	reg			sdio_out		//74HC595的SER管脚
 );
-parameter CLK_DIV_PERIOD = 600; //分频系数
-localparam	IDLE	=	3'd0;
-localparam	MAIN	=	3'd1;
-localparam	WRITE	=	3'd2;
-localparam	LOW		=	1'b0;
-localparam	HIGH	=	1'b1;
-//创建数码管的字库，字库数据依段码顺序有关
-//这里字库数据[MSB~LSB]={DP,G,F,E,D,C,B,A}
-reg[7:0] seg [15:0];
-initial begin
-    seg[0]	=	8'h3f;   //  0
-    seg[1]	=	8'h06;   //  1
-    seg[2]	=	8'h5b;   //  2
-    seg[3]	=	8'h4f;   //  3
-    seg[4]	=	8'h66;   //  4
-    seg[5]	=	8'h6d;   //  5
-    seg[6]	=	8'h7d;   //  6
-    seg[7]	=	8'h07;   //  7
-    seg[8]	=	8'h7f;   //  8
-    seg[9]	=	8'h6f;   //  9
-	seg[10]	=	8'h77;   //  A
-    seg[11]	=	8'h7c;   //  b
-    seg[12]	=	8'h39;   //  C
-    seg[13]	=	8'h5e;   //  d
-    seg[14]	=	8'h79;   //  E
-    seg[15]	=	8'h71;   //  F
-end
-//计数器对系统时钟信号进行计数
+	/*
-reg[9:0] cnt=0;
+	本设计通过驱动DS18B20Z芯片获取温度数据，
-always@(posedge clk_in or negedge rst_n_in) begin
+	需要了解inout类型的接口如何实现双向通信，
-	if(!rst_n_in) begin
+	中间涉及各种不同的延时和寄存器指令操作，注释部分以作简要说明，更多详情需参考数据手册
-		cnt <= 1'b0;
+	*/
-	end else begin
-		if(cnt>=(CLK_DIV_PERIOD-1)) cnt <= 1'b0;
+	localparam	IDLE	=	3'd0;
-		else cnt <= cnt + 1'b1;
+	localparam	MAIN	=	3'd1;
+	localparam	INIT	=	3'd2;
+	localparam	WRITE	=	3'd3;
+	localparam	READ	=	3'd4;
+	localparam	DELAY	=	3'd5;
+	//计数器分频产生1MHz的时钟信号
+	reg					clk_1mhz;
+	reg		[2:0]		cnt_1mhz;
+	always@(posedge clk_in or negedge rst_n_in) begin
+		if(!rst_n_in) begin
+			cnt_1mhz <= 3'd0;
+			clk_1mhz <= 1'b0;
+		end else if(cnt_1mhz >= 3'd5) begin
+			cnt_1mhz <= 3'd0;
+			clk_1mhz <= ~clk_1mhz;	//产生1MHz分频
+		end else begin
+			cnt_1mhz <= cnt_1mhz + 1'b1;
+		end
 	end
-end
+	reg		[2:0]		cnt;
-//根据计数器计数的周期产生分频的脉冲信号
+	reg					one_wire_buffer;
-reg clk_div;
+	reg		[3:0]		cnt_main;
-always@(posedge clk_in or negedge rst_n_in) begin
+	reg		[7:0]		data_wr;
-	if(!rst_n_in) begin
+	reg		[7:0]		data_wr_buffer;
-		clk_div <= 1'b0;
+	reg		[2:0]		cnt_init;
-	end else begin
+	reg		[19:0]		cnt_delay;
-		if(cnt==(CLK_DIV_PERIOD-1)) clk_div <= 1'b1;
+	reg		[19:0]		num_delay;
-		else clk_div <= 1'b0;
+	reg		[3:0]		cnt_write;
-	end
+	reg		[2:0]		cnt_read;
-end
+	reg		[15:0]		temperature;
+	reg		[7:0]		temperature_buffer;
-//使用状态机完成数码管的扫描和74HC595时序的实现
+	reg		[2:0] 		state = IDLE;
-reg		[15:0]		data_reg;
+	reg		[2:0] 		state_back = IDLE;
-reg		[2:0]		cnt_main;
+	//使用1MHz时钟信号做触发完成下面状态机的功能
-reg		[5:0]		cnt_write;
+	always@(posedge clk_1mhz or negedge rst_n_in) begin
-reg		[2:0] 		state = IDLE;
+		if(!rst_n_in) begin
-always@(posedge clk_in or negedge rst_n_in) begin
+			state <= IDLE;
-	if(!rst_n_in) begin	//复位状态下，各寄存器置初值
+			state_back <= IDLE;
-		state <= IDLE;
+			cnt <= 1'b0;
-		cnt_main <= 3'd0;
+			cnt_main <= 1'b0;
-		cnt_write <= 6'd0;
+			cnt_init <= 1'b0;
-		sdio_out <= 1'b0;
+			cnt_write <= 1'b0;
-		sclk_out <= LOW;
+			cnt_read <= 1'b0;
-		rclk_out <= LOW;
+			cnt_delay <= 1'b0;
-	end else begin
+			one_wire_buffer <= 1'bz;
-		case(state)
+			temperature <= 16'h0;
-			IDLE:begin	//IDLE作为第一个状态，相当于软复位
+		end else begin
-					state <= MAIN;
+			case(state)
-					cnt_main <= 3'd0;
+				IDLE:begin		//IDLE状态，程序设计的软复位功能，各状态异常都会跳转到此状态
-					cnt_write <= 6'd0;
+						state <= MAIN;	//软复位完成，跳转之MAIN状态重新工作
-					sdio_out <= 1'b0;
+						state_back <= MAIN;
-					sclk_out <= LOW;
+						cnt <= 1'b0;
-					rclk_out <= LOW;
+						cnt_main <= 1'b0;
-				end
+						cnt_init <= 1'b0;
-			MAIN:begin
+						cnt_write <= 1'b0;
-					if(cnt_main >= 3'd5) cnt_main <= 1'b0;
+						cnt_read <= 1'b0;
-					else cnt_main <= cnt_main + 1'b1;
+						cnt_delay <= 1'b0;
-					case(cnt_main)
+						one_wire_buffer <= 1'bz;
-						//对6位数码管逐位扫描
+					end
-'d0:	begin
+				MAIN:begin		//MAIN状态控制状态机在不同状态间跳转，实现完整的温度数据采集
-									state <= WRITE;	//在配置完发给74HC595的数据同时跳转至WRITE状态，完成串行时序
+						if(cnt_main >= 4'd11) cnt_main <= 1'b0;
-									data_reg <= {seg[seg_data_1]|(seg_dot_en[0]?8'h80:8'h00),seg_data_en[0]?8'hfe:8'hff};
+						else cnt_main <= cnt_main + 1'b1;
-									//data_reg[15:8]为段选，data_reg[7:0]为位选
+						case(cnt_main)
-									//seg[seg_data_1]  是根据端口的输入获取相应字库数据
+'d0: begin state <= INIT; end	//跳转至INIT状态进行芯片的复位及验证
-									//seg_dot_en[0]?8'h80:8'h00  是根据小数点显示使能信号 控制SEG1数码管的小数点DP段的电平
+'d1: begin data_wr <= 8'hcc;state <= WRITE; end	//主设备发出跳转ROM指令
-									//seg_data_en[0]?8'hfe:8'hff  是根据数据显示使能信号 控制SEG1数码管的位选引脚的电平
+'d2: begin data_wr <= 8'h44;state <= WRITE; end	//主设备发出温度转换指令
-								end
+'d3: begin num_delay <= 20'd750000;state <= DELAY;state_back <= MAIN; end	//延时750ms等待转换完成
-'d1:	begin
-									state <= WRITE;
+'d4: begin state <= INIT; end	//跳转至INIT状态进行芯片的复位及验证
-									data_reg <= {seg[seg_data_2]|(seg_dot_en[1]?8'h80:8'h00),seg_data_en[1]?8'hfd:8'hff};
+'d5: begin data_wr <= 8'hcc;state <= WRITE; end	//主设备发出跳转ROM指令
-								end
+'d6: begin data_wr <= 8'hbe;state <= WRITE; end	//主设备发出读取温度指令
-'d2:	begin
-									state <= WRITE;
+'d7: begin state <= READ; end	//跳转至READ状态进行单总线数据读取
-									data_reg <= {seg[seg_data_3]|(seg_dot_en[2]?8'h80:8'h00),seg_data_en[2]?8'hfb:8'hff};
+'d8: begin temperature[7:0] <= temperature_buffer; end	//先读取的为低8位数据
-								end
-'d3:	begin
+'d9: begin state <= READ; end	//跳转至READ状态进行单总线数据读取
-									state <= WRITE;
+'d10: begin temperature[15:8] <= temperature_buffer; end	//后读取的为高8为数据
-									data_reg <= {seg[seg_data_4]|(seg_dot_en[3]?8'h80:8'h00),seg_data_en[3]?8'hf7:8'hff};
-								end
+'d11: begin state <= IDLE;data_out <= temperature; end	//将完整的温度数据输出并重复以上所有操作
-'d4:	begin
+							default: state <= IDLE;
-									state <= WRITE;
+						endcase
-									data_reg <= {seg[seg_data_5]|(seg_dot_en[4]?8'h80:8'h00),seg_data_en[4]?8'hef:8'hff};
+					end
-								end
+				INIT:begin		//INIT状态完成DS18B20Z芯片的复位及验证功能
-'d5:	begin
+						if(cnt_init >= 3'd6) cnt_init <= 1'b0;
-									state <= WRITE;
+						else cnt_init <= cnt_init + 1'b1;
-									data_reg <= {seg[seg_data_6]|(seg_dot_en[5]?8'h80:8'h00),seg_data_en[5]?8'hdf:8'hff};
+						case(cnt_init)
-								end
+'d0: begin one_wire_buffer <= 1'b0; end	//单总线复位脉冲拉低
-						default: state <= IDLE;
+'d1: begin num_delay <= 20'd500;state <= DELAY;state_back <= INIT; end	//复位脉冲保持拉低500us时间
-					endcase
+'d2: begin one_wire_buffer <= 1'bz; end	//单总线复位脉冲释放，自动上拉
-				end
+'d3: begin num_delay <= 20'd100;state <= DELAY;state_back <= INIT; end	//复位脉冲保持释放100us时间
-			WRITE:begin
+'d4: begin if(one_wire) state <= IDLE; else state <= INIT; end	//根据单总线的存在检测结果判定是否继续
-					if(clk_div) begin	//74HC595的串行时钟有速度要求，需要按照分频后的节拍
+'d5: begin num_delay <= 20'd400;state <= DELAY;state_back <= INIT; end	//如果检测正常继续保持释放400us时间
-						if(cnt_write >= 6'd33) cnt_write <= 1'b0;
+'d6: begin state <= MAIN; end	//INIT状态操作完成，返回MAIN状态
-						else cnt_write <= cnt_write + 1'b1;
+							default: state <= IDLE;
+						endcase
+					end
+				WRITE:begin		//按照DS18B20Z芯片单总线时序进行写操作
+						if(cnt <= 3'd6) begin	//共需要发送8bit的数据，这里控制循环的次数
+							if(cnt_write >= 4'd6) begin cnt_write <= 1'b1; cnt <= cnt + 1'b1; end
+							else begin cnt_write <= cnt_write + 1'b1; cnt <= cnt; end
+						end else begin
+							if(cnt_write >= 4'd8) begin cnt_write <= 1'b0; cnt <= 1'b0; end	//两个变量都恢复初值
+							else begin cnt_write <= cnt_write + 1'b1; cnt <= cnt; end
+						end
+						//对于WRITE状态中cnt_write来讲，执行过程为：0;[1~6]*8;7;8;
 						case(cnt_write)
-							//74HC595是串行转并行的芯片，3路输入可产生8路输出，而且可以级联使用
+							//lock data_wr
-							//74HC595的时序实现，参考74HC595的芯片手册
+'d0: begin data_wr_buffer <= data_wr; end	//将需要写出的数据缓存
-'d0:  begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[15]; end		//SCK下降沿时SER更新数据
+							//发送 1bit 数据的用时在60~120us之间，参考数据手册
-'d1:  begin sclk_out <= HIGH; end								//SCK上升沿时SER数据稳定
+'d1: begin one_wire_buffer <= 1'b0; end	//总线拉低
-'d2:  begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[14]; end
+'d2: begin num_delay <= 20'd2;state <= DELAY;state_back <= WRITE; end	//延时2us时间，保证15us以内
-'d3:  begin sclk_out <= HIGH; end
+'d3: begin one_wire_buffer <= data_wr_buffer[cnt]; end	//先发送数据最低位
-'d4:  begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[13]; end
+'d4: begin num_delay <= 20'd80;state <= DELAY;state_back <= WRITE; end	//延时80us时间
-'d5:  begin sclk_out <= HIGH; end
+'d5: begin one_wire_buffer <= 1'bz; end	//总线释放
-'d6:  begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[12]; end
+'d6: begin num_delay <= 20'd2;state <= DELAY;state_back <= WRITE; end	//延时2us时间
-'d7:  begin sclk_out <= HIGH; end
+							//back to main
-'d8:  begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[11]; end
+'d7: begin num_delay <= 20'd80;state <= DELAY;state_back <= WRITE; end	//延时80us时间
-'d9:  begin sclk_out <= HIGH; end
+'d8: begin state <= MAIN; end	//返回MAIN状态
-'d10: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[10]; end
+							default: state <= IDLE;
-'d11: begin sclk_out <= HIGH; end
+						endcase
-'d12: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[9]; end
+					end
-'d13: begin sclk_out <= HIGH; end
+				READ:begin		//按照DS18B20Z芯片单总线时序进行读操作
-'d14: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[8]; end
+						if(cnt <= 3'd6) begin	//共需要接收8bit的数据，这里控制循环的次数
-'d15: begin sclk_out <= HIGH; end
+							if(cnt_read >= 3'd5) begin cnt_read <= 1'b0; cnt <= cnt + 1'b1; end
-'d16: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[7]; end
+							else begin cnt_read <= cnt_read + 1'b1; cnt <= cnt; end
-'d17: begin sclk_out <= HIGH; end
+						end else begin
-'d18: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[6]; end
+							if(cnt_read >= 3'd6) begin cnt_read <= 1'b0; cnt <= 1'b0; end	//两个变量都恢复初值
-'d19: begin sclk_out <= HIGH; end
+							else begin cnt_read <= cnt_read + 1'b1; cnt <= cnt; end
-'d20: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[5]; end
+						end
-'d21: begin sclk_out <= HIGH; end
+						case(cnt_read)
-'d22: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[4]; end
+							//读取 1bit 数据的用时在60~120us之间，总线拉低后15us时间内读取数据，参考数据手册
-'d23: begin sclk_out <= HIGH; end
+'d0: begin one_wire_buffer <= 1'b0; end	//总线拉低
-'d24: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[3]; end
+'d1: begin num_delay <= 20'd2;state <= DELAY;state_back <= READ; end	//延时2us时间
-'d25: begin sclk_out <= HIGH; end
+'d2: begin one_wire_buffer <= 1'bz; end	//总线释放
-'d26: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[2]; end
+'d3: begin num_delay <= 20'd5;state <= DELAY;state_back <= READ; end	//延时5us时间
-'d27: begin sclk_out <= HIGH; end
+'d4: begin temperature_buffer[cnt] <= one_wire; end	//读取DS18B20Z返回的总线数据，先收最低位
-'d28: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[1]; end
+'d5: begin num_delay <= 20'd60;state <= DELAY;state_back <= READ; end	//延时60us时间
-'d29: begin sclk_out <= HIGH; end
+							//back to main
-'d30: begin sclk_out <= LOW; sdio_out <= data_reg[0]; end
+'d6: begin state <= MAIN; end	//返回MAIN状态
-'d31: begin sclk_out <= HIGH; end
-'d32: begin rclk_out <= HIGH; end								//当16位数据传送完成后RCK拉高，输出生效
-'d33: begin rclk_out <= LOW; state <= MAIN; end
 							default: state <= IDLE;
 						endcase
-					end else begin
-						sclk_out <= sclk_out;
-						sdio_out <= sdio_out;
-						rclk_out <= rclk_out;
-						cnt_write <= cnt_write;
-						state <= state;
 					end
-				end
+				DELAY:begin		//延时控制
-			default: state <= IDLE;
+						if(cnt_delay >= num_delay) begin	//延时控制，延时时间由num_delay指定
-		endcase
+							cnt_delay <= 1'b0;
+							state <= state_back; 	//很多状态都需要延时，延时后返回哪个状态由state_back指定
+						end else cnt_delay <= cnt_delay + 1'b1;
+					end
+			endcase
+		end
 	end
-end
+	assign	one_wire = one_wire_buffer;
 endmodule
 </code>
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-====小结====
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+#### 小结
-本节主要为大家讲解了数码管显示的相关原理及软件设计，需要大家掌握的同时自己创建工程，通过整个设计流程，生成FPGA配置文件加载测试。
+本节主要为大家讲解了DS18B20Z的驱动方法及软件实现，需要大家掌握的同时自己创建工程，通过整个设计流程，生成FPGA配置文件加载测试。
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 如果你对Diamond软件的使用不了解，请参考这里：[[lattice_diamond的使用|Diamond的使用]]。
-====相关资料====
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+#### 相关资料
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-使用[[STEP-MXO2第二代]]的数码管扫描程序:  后续会有下载连接  待更新
+使用[[STEP-MXO2第二代]]的基于DS18B20Z的温度计设计程序:  后续会有下载连接  待更新
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-使用[[STEP-MAX10]]的数码管扫描程序:  后续会有下载连接  待更新
+使用[[STEP-MAX10]]的基于DS18B20Z的温度计设计程序:  后续会有下载连接  待更新
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