元器件特性测试仪
通过每一组引脚充电放电的导通情况判断大致的器件类型以及连接的引脚,并作测量
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嵌入式系统
测试
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HZSD
更新2021-01-04
1978
  • 主函数

FnpU_fwLU6J9F4rAJnnx7XbR9nt3

 

流程为

    • 初始化定时器
    • 判断是否检测完成
    • 清除检测标志

 

  • 按键处理
    Fk3Q6C7KS0iHJH53T7MSqQBUPeHG

流程为

    • 按键消抖
    • 显示正在检测的提示
    • 检测元器件
    • 置位标志,清除中断标志

 

  • 通过每一组引脚充电放电的导通情况判断大致的器件类型以及连接的引脚。

FnK3Qbp45KSZSPKFM_z_XH8Al8Lf

 

流程为

三个ADC口分为三组,每一组分别获取两者之间的电压状态,并将电压状态写进数组,通过数组的数据大致判断器件类型。

 

  • 电阻测量

根据前面函数测量出来的引脚,通过470k和680的电阻分压,分别获取电阻阻值,取平均值,如果电阻过大或过小,将舍弃一组值。

 

  • 电容测量

通过680欧电阻进行充电,充电100ms后用680欧电阻进行放电,如果此时检测到放电速度过快,则启用470k电阻放电。通过放电时间来取得容值。

 

  • 二极管测量

二极管测量比较简单,两端串联680欧电阻,正极置高,另一端取得的电压差即为导通电压。

 

  • DMOS测量

令Ugs=0,然后通过680欧电阻测量电压,再算出漏极电流。

 

 

部分代码

Fk0ZkhOQz7KVbO61CJh_kJMKMJY0

 

FgH1KeoOPfuSe6rtnkoWxdGGa5Du

 

Fv5rccib1SraMY1s6Z4EmOs8bIzV

 

FpOWKvPdB5TOmoWRTNOML45wjzIV

 

完整代码分享在:

链接:https://pan.baidu.com/s/1TpY1V1CmYr1eLtJp9PtoWA
提取码:tj5g

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