ADUC7029


+ 模拟I/O + 多通道、12位、1 MSPS ADC + 多达16个ADC通道 + 全差分模式和单端模式 + 模拟输入范围:0 V至VREF + 12位电压输出DAC + 最多提供4路DAC输出 li> + 片内基准电压 + 片内温度传感器(±3°C) + 电压比较器 + 微控制器 + ARM7TDMI内核、16位/32位RISC架构 + JTAG端口支持代码下载和调试 + 时钟选项 + 片上调整振荡器(±3%) + 外部时钟晶体 + 可达44 MHz的外部时钟源 + 具有可编程分频器的41.78 MHz锁相环
+ 数据总线宽度:32 bit/16 bit + 最大时钟频率:41.78 MHz + 程序存储器大小:62 kB + 数据 RAM 大小:8 kB + ADC分辨率:12 bit + 工作电源电压:3 V + 最大工作温度:+ 125 C + 处理器系列:ADuC7029 + 模拟电源电压:2.7 V to 3.6 V + DAC分辨率:4 x 12 bit + 数据 Ram 类型:RAM + I/O 电压:2.7 V to 3.6 V + 接口类型:I2C, SPI, UART + 最小工作温度:- 40 C
+ 工业控制和自动化系统 + 智能传感器、精密仪器 + 基站系统、光纤网络





+ 12位SAR ADC + ARM7TDMI® 内核:功能强大的16/32位ARM7内核集成了126 kB闪存和SRAM存储器,用来运行用户代码,可配置并控制ADC,对来自热敏电阻传感器的信号进行模数转换处理,以及控制UART/USB接口的通信。 + UART: UART用作与PC主机的通信接口。 + 两个外部开关\按钮(未显示)用来强制该器件进入闪存引导模式:使DOWNLOAD处于低电平,同时切换RESET开关,ADuC7122将进入引导模式,而不是正常的用户模式。在引导模式下,通过USB接口并利用I2CWSD工具可以对内部闪存重新编程。 + BUF_VREF: 带隙基准电压源也通过缓冲连接到BUF_VREF1和BUF_VREF2引脚,用作系统中其它电路的基准电压源。这些引脚需连接至少0.1 μF的电容,以降低噪声。

用于评估完全集成的1 MSPS、12位数据采集系统ADuC7029的开发系统,该采集系统在单芯片内集成高性能多通道ADC、16位/32位MCU和Flash/EE存储器。