用于低电压比较器的双极性高电压差分输入接口参考设计
此 TI 验证设计可为低电压比较器的双极性、高压差动输入接口提供原理、组件选择、仿真、原理图、PCB 布局、BOM 以及性能测量结果。? 此设计支持比较器(如 )以 +3.3V 单电源运行,并可对超出各自正常输入范围且极性 (±) 不限的两种输入电压进行比较。此设计考虑到了所有比较器和无源组件误差,因此直流输入误差小于 10mV。此设计还提供了最坏情况分析技术,以确定限流电阻器容差产生的直流误差(适用于电阻器用于比较器输入网络的情况)。此 TI 验证设计可为低电压比较器的双极性、高压差动输入接口提供原理、组件选择、仿真、原理图、PCB 布局、BOM 以及性能测量结果。? 此设计支持比较器(如 )以 +3.3V 单电源运行,并可对超出各自正常输入范围且极性 (±) 不限的两种输入电压进行比较。此设计考虑到了所有比较器和无源组件误差,因此直流输入误差小于 10mV。此设计还提供了最坏情况分析技术,以确定限流电阻器容差产生的直流误差(适用于电阻器用于比较器输入网络的情况)。 特性 • TI 精密设计:验证设计包含理论、组件选择、TINA-TI 仿真、PCB 原理图和布局、物料清单以及性能测量结果 • 比较器和无源组件产生的直流误差小于 +/-10 mV • +/-15V 的输入范围,双极性 • 单电源解决方案 • 采用 TLV3201 比较器 • 此设计也可与 TLV3011、TLV3012、TLV3401 和 TLV3701 比较器配合使用,以达到替代设计目的  
标签
差分输入接口
Texas Instruments Incorporated
更新2024-02-20
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内容介绍

此 TI 验证设计可为低电压比较器的双极性、高压差动输入接口提供原理、组件选择、仿真、原理图、PCB 布局、BOM 以及性能测量结果。? 此设计支持比较器(如 )以 +3.3V 单电源运行,并可对超出各自正常输入范围且极性 (±) 不限的两种输入电压进行比较。此设计考虑到了所有比较器和无源组件误差,因此直流输入误差小于 10mV。此设计还提供了最坏情况分析技术,以确定限流电阻器容差产生的直流误差(适用于电阻器用于比较器输入网络的情况)。此 TI 验证设计可为低电压比较器的双极性、高压差动输入接口提供原理、组件选择、仿真、原理图、PCB 布局、BOM 以及性能测量结果。? 此设计支持比较器(如 )以 +3.3V 单电源运行,并可对超出各自正常输入范围且极性 (±) 不限的两种输入电压进行比较。此设计考虑到了所有比较器和无源组件误差,因此直流输入误差小于 10mV。此设计还提供了最坏情况分析技术,以确定限流电阻器容差产生的直流误差(适用于电阻器用于比较器输入网络的情况)。

特性
  • • TI 精密设计:验证设计包含理论、组件选择、TINA-TI 仿真、PCB 原理图和布局、物料清单以及性能测量结果
  • • 比较器和无源组件产生的直流误差小于 +/-10 mV
  • • +/-15V 的输入范围,双极性
  • • 单电源解决方案
  • • 采用 TLV3201 比较器
  • • 此设计也可与 TLV3011、TLV3012、TLV3401 和 TLV3701 比较器配合使用,以达到替代设计目的

 

软硬件
元器件
TLV3201AIDBVR
5.5V 高速单路推挽比较器
附件下载
Bill of materials (BOM)-TIDRC46.pdf
Gerber file-TIDC811.zip
Reference Guide-TIDU039.pdf
Schematic-TIDC810.zip
Schematic-TIDRC45.pdf
Support software-TIDC812.zip
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